赛多利斯统计推断在电子天平期间核查中的应用探讨，文中以GL522-1SCN为例，介绍了几种常用的电子天平期间核查的方法。探讨统计学推断方法在电子天平期间核查中的应用。方法就是利用样本与总体、两样本均数比较的检验分别对期间核查的两种情况进行统计学推断。结果当时判断电子天平的校准状态得到保持；反之，则判断为失准。结论避免了数法中扩展不确定度的复杂计算，简单易用。
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［ 关键词 ］ 电子天平 ； 期间核查 ； 统计推断
期间核查是判断仪器设备在检定校准周期内其检定校准状态是否得到保持的重要手段，是实验室资质认定评审和内部评审中必查的项目。期间核查与检定校准不同，检定是按照检定规程对仪器设备做出合格与否的判定，校准是按照检定校准规程需给出校准值及不确定度，而期间核查只需对仪器设备的某一部分性能做出其检定校准状态是否得到保持的判定。论述期间核查的文献很多大都偏向于具体的操作，本文以赛多利斯电子天平GL522-1SCN为例，探讨统计学的判定在期间核查中的应用 。
1 、材料与方法
1. 1 、仪器电子天平：赛多利斯GL522-1SCN电子天平，520g （赛多利斯季尔天平）。
2、方法
2.1、与标准值比较法：适用于有标准確码且经过校准有校准值的核查。在期间核查时，按程序进行天平的预热，测试一组数据，基于测试值与校准值属于同一总体且符合正态分布的假设进行样本与总体的检验，有95%的概率判断期间核查合格 ，仪器的校准状态得到保持；反之则可判断期间核查不合格，仪器失准。
2.2、留样再测法：适用于有标准舷码但标准舷码未校准的情况。需首先对天平的检定状态进行确认，即电子天平检定并取得合格证后第一时间在规定的状态下测试一组麻码数据厂，然后按照规定的程序进行期间核查，测试次数与第一次一致 。利用统计推断进行电子天平的期间核查的判定，避免了数法中扩展不确定度的复杂计算，简便易行，值得推广 。
以上内容仅供大家参考，欢迎大家咨询购买赛多利斯电子天平。
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