浅析电子天平自校程序对检定结果的影响实例

导读:赛多利斯科学仪器（北京）有限公司为了检验自校程序重要性，可进行比对实验。对量程为 220g，d=1mg 的高精度天平实施自校前和自校后的检定，最终测得自校前的偏载误差为5mg，重复

来源：未知发布日期：2021-10-14 14:47【大中小】

赛多利斯科学仪器（北京）有限公司为了检验自校程序重要性，可进行比对实验。对量程为 220g，d=1mg 的高精度天平实施自校前和自校后的检定，最终测得自校前的偏载误差为5mg，

重复性误差为 12mg, 示值误差为 11mg，这时检定结果不合格；

在对天平实施自校以后，又进行了检定测试，得知偏载误差为 2mg，然当重复性误差载荷在 200g 时误差为 5mg，示值误差则为 3mg，这时检定结果合格。

由此可知，天平是否进行自校对检定结果有直接影响，所以检定前一定要对天平实施自校。

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浅析电子天平自校程序对检定结果的影响实例

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